蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀接口接線說(shuō)明 儀表接口說(shuō)明
測(cè)試線接口：打開(kāi)保護(hù)蓋，對(duì)準(zhǔn)旋轉(zhuǎn)插入。
SD卡接口：插入SD卡處。
充電接口：給儀表充電使用。
鍵盤(pán)區(qū)說(shuō)明：
▲▼ 蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀移動(dòng)選擇。
Enter：確認(rèn)。在測(cè)試界面，啟動(dòng)測(cè)試。
ReTest:在測(cè)試界面，重新測(cè)試。
0-9數(shù)字區(qū)域
ESC：返回。
【蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀電池容量】：電池的標(biāo)稱容量。對(duì)多節(jié)同規(guī)格、同類型的電池串聯(lián)構(gòu)成的電池組，整組容量就是單體電池的標(biāo)稱容量；【參考內(nèi)阻】：滿容量狀態(tài)下的電池內(nèi)阻。不同電池廠家由于電池內(nèi)部活性物質(zhì)的配方差異參考內(nèi)阻也有差異。如果電池廠家提供參考內(nèi)阻可以直接輸入該參考內(nèi)阻值，如果沒(méi)有我們提供了不同容量電池的典型參考內(nèi)阻。參考內(nèi)阻與計(jì)算電池的百分比容量，Z終判斷電池的好壞有關(guān)。
【電壓下限】：測(cè)試時(shí)對(duì)電池的保護(hù)電壓，一般2V電池設(shè)為1.8V,12V電池設(shè)為10.8V，低于設(shè)定值停止測(cè)試,；【測(cè)試方式】：
手動(dòng)：當(dāng)連續(xù)測(cè)試多節(jié)電池時(shí)，測(cè)完一節(jié)后，把測(cè)試夾移到下一節(jié)待測(cè)電池時(shí)，需要按“啟動(dòng)測(cè)試”才能開(kāi)始測(cè)試該節(jié)電池；自動(dòng)：當(dāng)連續(xù)測(cè)試多節(jié)電池時(shí)，測(cè)完一節(jié)后，把測(cè)試夾移到下一節(jié)待測(cè)電池時(shí)，測(cè)試儀自動(dòng)開(kāi)始測(cè)試該節(jié)電池；【極柱數(shù)目】：?jiǎn)喂?jié)電池的正負(fù)極極柱數(shù)量，為偶數(shù)。小容量電池一般只有2個(gè)極柱，大容量電池有多個(gè)極柱。一般設(shè)置為2；當(dāng)大容量電池需要測(cè)量多對(duì)極柱時(shí)，可設(shè)置為4,6,8；【加測(cè)連接條】：需要測(cè)量電池之間連接條或連接電纜的電阻時(shí)選擇此項(xiàng)。加測(cè)連接條的主要目的時(shí)為了防止連接松動(dòng)造成的連接電阻過(guò)大，在大電流充放電時(shí)壓降過(guò)大對(duì)電池性能有影響；【輸入選項(xiàng)】：當(dāng)電池組在浮充狀態(tài)下測(cè)試時(shí)單節(jié)電池的充電參數(shù)，設(shè)置以下參數(shù)主要為了在測(cè)試時(shí)排除對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾?？梢圆辉O(shè)置，按照原來(lái)默認(rèn)值。
蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀浮充電壓：待測(cè)單節(jié)電池的浮充電壓；浮充電流：待測(cè)單節(jié)電池的浮充電流；電池溫度：待測(cè)單節(jié)電池的環(huán)境溫度；【蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀測(cè)試電池】菜單：同一組電池，測(cè)試節(jié)數(shù)大于1節(jié)，如果次沒(méi)測(cè)完，第二次接著測(cè)時(shí)可在此菜單接著測(cè)試；作用同【原電池參數(shù)】菜單；【重新測(cè)試】：在“電池測(cè)試界面”或“數(shù)據(jù)管理”菜單電池組測(cè)量信息界面，如果某節(jié)電池測(cè)試數(shù)據(jù)有誤或需要再核實(shí)一下測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)，可以對(duì)該節(jié)電池重新測(cè)試一次，新的測(cè)試數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)覆蓋舊的測(cè)試數(shù)據(jù)；【接續(xù)測(cè)試】：在“數(shù)據(jù)管理”菜單電池組測(cè)量信息界面，對(duì)同一組電池，測(cè)試節(jié)數(shù)大于1節(jié)，如果次沒(méi)測(cè)完，第二次接著測(cè)時(shí)可在此菜單接著測(cè)試；作用同【原電池參數(shù)】菜單和【測(cè)試電池】菜單；【內(nèi)部存儲(chǔ)】：測(cè)試數(shù)據(jù)存貯在測(cè)試儀內(nèi)部自帶的存貯器；【外部存儲(chǔ)】：測(cè)試數(shù)據(jù)存貯在外插SD卡；【恢復(fù)參數(shù)】：蓄電池內(nèi)阻測(cè)試儀儀表設(shè)置恢復(fù)到出廠時(shí)的原始設(shè)置。
